那么SAS扩展卡厂商们是如何验证芯片级SSD对抗恶劣温度环境时，运作是如何可靠的呢？据威固了解，这是因为芯片级SSD在出厂前，都进行了以下严苛测试：
' J" l: B. p" Y0 A7 R0 Q# S! L 厂商如何让芯片级SSD变得可靠？
+ |! q% }% n+ ?9 N* u, w Temp OP宽温运行测试：% c9 A% H+ S. m! [
在固态硬盘操作温度-40°C至85°C之间做测试，并测试多种区间温度，确保固态硬盘能完成测试，而不会发生零件损坏、读写错误、比较错误，以验证芯片级SSD在各种不同的温度影响之下都可以顺利运作。- ?" v, |, v: p" E# r% G) k
Thermal Profile组件表面温度测试：# T7 n7 i+ A9 f$ H
针对所有芯片级SSD主要组件所做的组件测试和热分析，包括SoC、NAND、DRAM，我们测试组件最高温度与S.M.A.R.T.值变化量，并验证是否符合原厂规格，依热分析结果来设计固态硬盘整机热对流机制，同时SSSTC也可以为客户定制化最佳的散热设计。
) k; \6 Y4 V/ \9 y: {1 w" k- A, O Daily Life日常测试：4 s1 [# ]- c' s, |4 @
固态硬盘的兼容性和可靠性测试，在各种平台、操作系统、测试软件上，以严峻的标准模拟日常应用中的各种操作，并包含Power Cycle、Reboot、Copy & Delete、Long Latency、Read/Write Test等。" M+ H/ ^6 Q& w( {3 v
DET (FC/PC/PM) 测试：7 V1 K1 {9 d3 e* [
在高温、低温、高电压与低电压等四个象限所组合而成的混合测试，以确保芯片级SSD在极限状态下都可以正常运作，包含以下三大类别：
- [- ?5 J$ H! y P. O8 s 1. Read Write test on FC: 测试固态硬盘在四种极端状态下，仍能维持正常读写& s5 Y# {5 I/ u0 Y! T
2. Power Cycle test on FC: 测试固态硬盘在四种极端状态下，电源重启是否正常- B! }2 B; z4 E3 H) h6 U0 S/ n
3. Power Management on FC: 测试固态硬盘在四种极端状态下，休眠/节能状态唤醒是否正常
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